日本 Advantest

高分辨率脈衝時域反射計 (TDR) / 脈衝時域透射計 (TDT) 系統

實現世界最高的信號品質
非破壞性分析 IC 封裝以及電路版內部配線的故障部位

TS9000 TDR 利用既有的太赫茲解析系統中的短脈衝信號處理技術，針對 IC 封裝內部及電路版內部的配線故障部位進行非破壞性分析的系統。使用探針信號的太赫茲脈衝和之前用電氣產生

的脈衝相比，脈衝短，帶域寬，可得到更高分辨率的不良診斷。抽取測定好的時間波形變化，分析故障點 (斷路，短路，阻抗不匹配等)，把估計的故障點在測定對像的 CAD 數據上可視化

呈現出來，很容易確定故障位置。 

應用：

- 微凸、C4 凸塊的破斷、接觸不良分析

- 硅穿孔 (TSV) 的接觸不良診斷

- 接頭、樹脂版內部的配線不良診斷